日立高新使用新开发的x射线聚光用多毛细管的产品阵容诞生了。另外，以x射线检测结构为中心，对各类元件进行优化，从而大幅提高了检测灵敏度，在不损失检测精度的前提下实现了的高处理能力。并且，对设备进行了重新设计，使得样本室的使用，以及对检测点的检查变得更为容易。
毛细管系统镀层测厚仪 产品详情
显微领域的高精度检测
通过采用新开发的多毛细管，以及对探测器的优化，在实现照射半径等同于旧有型号ft9500x为30 μm（设想fwhm： 17 μm）的基础上，进一步将处理能力提高到了2倍以上。
产品阵容适应各类检测样本
针对检测样本的不同种类，可在下列3种型号中进行选择
测量引线架、连接器等各类电子元器件的微型部件、超薄薄膜的型号
能够处理尺寸为600 mm×600 mm的大型印刷电路板的大型印刷电路板用型号
适合对陶瓷芯片电极部分中，过去难以同时测量的sn/ni两层进行高能测量的型号
兼顾易操作性与安全性
放大了开口，同时样本室的门也可单手轻松开闭。从而提高了取出、放入检测样本的操作简便性，并且该密封结构也大大减少了x射线泄漏的风险，让用户放心使用。
检测部位可见
通过设置大型观察窗、修改部件布局，使得样本室门在关闭状态下亦可方便地观察检测部位。
清晰的样本图像
使用了分辨率比以往更高的样本观察摄像头，采用全数码变焦，从而消除位置偏差，可以清晰地观察数十μm的微小样本。
另外，亦采用led作为样本观察灯，无需像以往的机型那样对灯泡进行更换。
新gui
•将各类检测方法、检测样本都以应用程序图标的形式进行了登记。图标皆为检测样本的照片、多层膜的图示等，因此登记、整理起来就很方便，从而使得用户可以不走弯路，直接进行检测。
•使用检测向导窗口来指导操作。通过与检测画面联动，逐步引导用户执行当前所需进行的工作。
ft150系列参数：
ft150
ft150l
ft150h
测量元素
al（z＝13）～u（z＝92）
al（z＝13）～u（z＝92）
al（z＝13）～u（z＝92）
x射线管
mo靶材
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w靶材
管电压：45kv管电流：1ma以下
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检测器
si半导体检测器（sdd）
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照射径
ф：30μm (fwhm:17μm)
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ф：35μm (fwhm:20μm)
样品观察
ccd摄像头
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样品尺寸
400mm×300mm×100mm
600mm×600mm×20mm
400mm×300mm×100mm
样品重量
10kg
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应用程序
定性分析
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薄膜检量线（单层、2层、2成分合金单层膜）
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薄膜fp法（最多可测量5层、10个元素）等
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报告功能
microsoft word/excel
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电源
ac100-240v
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仪器尺寸
930mm×900mm×710mm
1030mm×1200mm×710mm
930mm×900mm×710mm
仪器重量
约160kg
约170kg
约160kg